随着工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行《夏比V型缺口冲击试验方法》,该方法要求十分严格,所以在整个试验的过程中,如果试样的V型缺口的加工质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,特别是缺口尖端的微小变化,都会引起试验结果的陡跳,尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为了保证加工出的夏比V型缺口合格,缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。目前使用光学投影放大的检验是比较通用的方法,但这种检验方法却存在着诸多缺点,由于该方法需要人工来检测,所以检测周期长,人为因素影响大导致结果也存在着一定的误差,加之随着质量检测越来越严格而导致检测的工作量也会随之递增,更加没办法集成到自动化检测系统中了,所以这种检测手段已经无法满足现代化生产了。
为了更加准确快速的检验出样品结果,我公司自主研发的全自动V型缺口检测系统是通过高精度的CMOS成像技术加上先进的图像识别算法自动检测出样品结果,该系统具有检测精度高、速度快、自动存档并适合全自动批量检测等特点,消除了人为因素的各种缺点,在显著的提高了检测质量的同时也极大的降低了操作人员的工作量,更加适合现代化的生产任务。
产品特点:
1、IPC-600-R7i7AE 4槽位扩展壁挂式工控机;
2、Intel C236芯片Micro-ATX工控主板IMB-C236DF-00A1E;
3、Intel I7-7700 酷睿4核8线程3.6GHz处理器;
4、内存:DDR4 8GB 2400MHz工控专用内存;
5、外置最多支持8个COM,36个USB,8个intel POE千兆网口;
6、外置最多支持4个扩展插槽;
7、VGA+HDMI+DP独立异显;
8、后置PS2键鼠接口;
9、1U FLEX 额定400W电源。
精度高
系统采用高清CMOS快速图像采集系统和高精度分离式识别算法,可精确识别缺口数据,V型缺口的精确度可达到0.0019mm(精度与采集系统有关,可根据实际需要提高或降低精度),是传统投影检测设备(以投影设备放大50倍计算)的52.5倍。并且排除了人工操作的一些误差等因素,所以检测结果更具代表性。
速度快
自动检测系统采用流水线式的检测方式,在样品经过检测区域的时候数据即刻生成,当数据采集到本系统之后检测的平均速度在0.055秒(排除放样时间),是一般人工测量速度(以人工检测、记录周期为10秒计算)的200倍以上。
样品表面自动清理
由于样品在加工时会产生一些铁屑等杂物附着在表面,会干扰到后续的检测精度,加上样品较小,清洁起来较为麻烦,传统的人工清理方式工作量较大,特别是在样品量大的时候更加明显。本系统集成了自动清理装置,可以将表面及V型缺口中的杂质清理干净,为后续的检测提供合适的样品。
自动存档、报表和发送
系统会根据生产需要将数据自动存储、统计和打印报表并上传到指定上位机。可避免了人工统计所产生时间消耗和记录误差。
符合国内外相关标准
系统使用标准模板的方式来判定检测结果,符合各项国内和国际相关标准,用户可以根据合同要求来选择标准,也可以根据自己的生产工艺调整规范。使检测更加符合实际生产需要。
可连续自动检测
系统为自动检测工作方式,检测速度快、精度高,非常适合批量检测任务,操作人员只需要将一批样品放置到检测设备中,系统会自动检测每个样品,并将检测完成的样品放置到归档装置,便于移动,还可以根据需要自动为样品贴上标签以便识别。